岗位描述
岗位职责
1.负责分析3D NAND良率损失主要原因,制定良率提升计划,依据inline监测数据预测良率。
2.负责ramping up阶段良率routine monitor,跟踪良率趋势,并定期汇报良率状况。
3.与研发工艺,整合,测试,器件等部门合作,进行根本原因澄清并推动inline 监测与改善,确保良率目标达成。
4.负责分析3D NAND DPPM失效主要原因,制定DPPM提升计划。
5.负责DPPM rountine monitor, 反馈异常并推动inline monitor与改善以及加强测试 screen。
6.负责新工艺, 新产品导入良率分析。
岗位要求
1.学历背景:电子信息与自动化/微电子/计算机工程/材料物理等相关专业硕士及以上
2.工作经验:3年及以上相关领域工作经验,有成功良率分析与提升案例者优先
3.专业技能:
*熟悉相关领域半导体制造工艺流程及关键工艺参数
*掌握良率分析方法及工具
*具备扎实的统计学基础,能运用统计方法分析数据
*了解半导体测试原理
*了解半导体物理基础以及失效分析技术
*具备良好的沟通能力和团队合作精神
*具备良好的英语读写能力