岗位描述
岗位职责
1.负责IC芯片级失效分析能力提升和平台建设;
2.负责不合格品和故障器件失效模式定位与分析,快速锁定失效机理和根因,支撑风险评估/故障激发方案制定;
3.建立IC测试、缺陷动态定位等完整的芯片级失效分析体系;
4.完成上级领导交办的其他工作任务。
任职要求
1.全日制本科及以上学历,微电子、电子科学与技术、电子信息工程等相关专业优先;
2.了解IC电路测试原理,了解景观、显示、电源等终端产品优先;
3.熟悉半导体封装、晶圆制造流程,了解电路故障失效分析相关流程,熟悉半导体器件失效机理;
4.掌握IC动态定位技术,可基于测试和定位设备建立IC电路完整的测试与分析能力,可完成IC芯片内部电路故障参数测试分析、电路版图分析和缺陷定位;
5.熟悉EMMI/OBIRCH、FIB、TEM等常用分析设备方法及原理。