岗位描述
岗位职责:
1. DFT设计与实现
负责芯片可测试性设计(DFT),包括 Scan Insertion、MBIST(存储器内建自测试)、ATPG(自动测试向量生成)的架构设计与实现
制定DFT方案,确保测试覆盖率 ≥99%(Stuck-at/Timing-aware),优化测试时间与硬件开销
2. 回片测试与良率提升
主导芯片回片后的 CP/FT测试(晶圆测试/成品测试),协助ATE搭建测试硬件环境(Load Board/Probe Card)
分析测试数据(Shmoo图、良率分布),定位测试失效原因(如时序违例、电源噪声、封装缺陷)
协同设计团队进行良率调试(Yield Debug),提出DFT结构优化或工艺改进建议
3. DFT流程开发与优化
开发自动化DFT流程脚本(Tcl/Python/Perl)
建立DFT设计规则检查(DRC)流程,确保与后端物理设计、时序收敛的协同
探索先进工艺(<7nm)下的低功耗DFT技术(如Power-AwareTesting)
探索先进工艺(<7nm)下和超大size下的良率提升技术
职位要求:
计算机、微电子、集成电路、电子信息、图形学相关专业,硕士及以上学历
熟悉脚本语言:Python/Tcl/Perl(自动化流程开发必备)
熟悉数字电路测试原理(Stuck-at/Transition/Bridging Fault); 掌握存储器测试算法(March C/BIST);了解半导体工艺(FinFET/FD-SOI)
熟悉静态时序分析,网表综合
熟悉DC,Genus ,LEC,Formal, PT 等EDA 工具
熟悉IEEE 1149.1/1687等DFT协议演进
有SoC,AI,GPGPU,GPU项目经验者优先
良好的沟通能力和团队协作精神