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中际旭创

后道工程师(解理+AOI)

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岗位描述

岗位职责
1. 负责解理后Bar条/裸芯片外观检验工艺开发、检验标准建立、判定规范更新;包含腔面、波导区、金属电极、芯片侧面、表面颗粒/污染等外观检验标准制定,适配InP DFB激光器。
2. 量产检验作业管控:负责解理、腔面镀膜后芯片光学外观检查,识别腔面崩边、解理台阶、腔面划痕、膜层缺损、金属起皮、颗粒污染、沾胶、裂片等外观不良;区分致命不良、次要不良,完成芯片分选。
3. 检验系统与工装开发维护:光学显微镜、微分干涉显微镜DIC、自动外观检查设备(AOI)工艺验证、参数调试、工装载具评估;建立检验拍照存档、不良样品留样机制。
4. 不良分类统计与失效分析:统计各类外观不良Pareto,定位不良来源(解理工艺、镀膜、划片、颗粒污染);联动解理、镀膜、湿法工段做根因分析,输出8D报告,推动改善。
5. 检验能力确认:GR&R重复性再现性验证,检验员培训、判定一致性管理;制定抽样方案、检验SOP、不良图谱(标准样片+不良图片集)。
6. DOE/数据统计:监控外观不良率,跟踪良率趋势,使用SPC监控外观缺陷率,持续降低漏检、误判率。
7. 跨工段协同:对接划片解理、腔面镀膜、晶圆测试、封装前检验;重点管控DFB腔面品质(腔面缺陷直接造成激光器烧毁、可靠性失效)。
8. 洁净区、ESD管控:检验工位ESD防护,样品保管,不良品管控,防止腔面二次污染、划伤。

岗位要求
1. 学历:大专及以上,微电子、光电子、材料、半导体相关专业。
2. 资深岗:2年及以上III-V化合物半导体(InP/GaAs)激光器芯片外观检验经验,熟悉Bar条解理腔面检查优先。
3. 初级岗:1年以上半导体芯片外观检验经验,有光器件检验经验优先;无相关经验可培训,但需要良好光学形貌识别能力。
4. 熟悉千级洁净车间操作,熟悉ESD规范;可配合产线轮班。
专业技能
1. 熟悉DFB激光器芯片结构,理解腔面品质对器件可靠性的影响,能识别解理台阶、腔面崩缺、镀膜缺陷、金属层损伤、颗粒等典型不良。
2. 熟练使用金相显微镜、DIC微分干涉显微镜;了解半导体AOI外观检测设备基础原理。
3. 掌握检验基础统计方法:抽样、GR&R、不良Pareto分析;能建立标准样品与不良图谱。
4. 具备失效分析基础,可区分不良发生在划片、解理、腔面镀膜等不同工序。
5. 看得懂半导体工艺基础,理解InP材料脆性特点,解理工艺常见缺陷。
加分项
1. 4英寸InP DFB/EML光芯片产线解理Bar腔面检验经验。
2. 参与过芯片外观检验标准建立、AOI自动检测机导入项目。
3. 熟悉激光器可靠性失效机理,能区分外观缺陷与器件烧毁的关联。
4. 英文基础,可阅读设备操作手册。
5. 有检验团队培训、检验一致性改善项目经验。

质量安全方向的申请准备

先核对岗位要求与自己的经历,再准备档案、投递和面试。

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